恒溫恒濕試驗(yàn)箱用途及滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)
更新時(shí)間：2021-03-02 點(diǎn)擊次數(shù)：2515次
一、用途
恒溫恒濕試驗(yàn)箱適用于儀器儀表材料、電工、電子產(chǎn)品、家用電器、化工涂料等各種電子及其相關(guān)產(chǎn)品零部件在高溫低溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。本設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶(hù)自定要求，在高低溫環(huán)境下對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品的改進(jìn)、鑒定及出廠(chǎng)檢驗(yàn)用.
二、恒溫恒濕試驗(yàn)箱滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)
IEC 60068-2-2.1974高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法。
GB/T 2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn): 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫。
GB/T 2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn): 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫。
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：試驗(yàn)Cab 恒定濕熱試驗(yàn)。
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：試驗(yàn)Db 交變濕熱（12h+12h循環(huán)）。
GB 10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件。
